荣誉资质图片

cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

标准简介

国家标准《硅单晶抛光试验片规范》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。

主要起草单位宁波立立电子股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司。

主要起草人宫龙飞 、何良恩 、许峰 、黄笑容等 。

标准基本信息

标准号
GB/T 26065-2010
发布日期
2011-01-10
实施日期
2011-10-01
标准类别
产品
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

相近标准

20250822-T-469  200mm碳化硅单晶抛光片
SJ/T 11502-2015  碳化硅单晶抛光片规范
20240494-T-469  碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
GB/T 12964-2018  硅单晶抛光片
GB/T 30656-2023  碳化硅单晶抛光片
GB/T 29506-2013  300mm 硅单晶抛光片
SJ/T 11504-2015  碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
SJ/T 11503-2015  碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
GB/T 31351-2014  碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
GB/T 41325-2022  集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

我们的实力

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

部分实验仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。