集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

发布时间:2025-04-21 18:30:36 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准《集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位有研半导体硅材料股份公司、山东有研半导体材料有限公司、杭州中欣晶圆半导体股份有限公司、南京国盛电子有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、中环领先半导体材料有限公司、浙江海纳半导体有限公司。

主要起草人孙燕 、宁永铎 、钟耕杭 、李洋 、徐新华 、骆红 、杨素心 、李素青 、张海英 、由佰玲 、潘金平 。

标准基本信息

标准号
GB/T 41325-2022
发布日期
2022-03-09
实施日期
2022-10-01
标准类别
产品
中国标准分类号
H82
国际标准分类号
29.045
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

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检测标准 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片

检测资质

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CMA认证

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CNAS认证

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中国合格评定国家认可委员会

ISO认证

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行业资质

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