



标准简介
国家标准《蓝宝石单晶位错密度测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。
主要起草单位江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、深圳市中安测标准技术有限公司。
主要起草人薛抗美 、黄修康 、杭寅 、尹继刚 、田野 、张永波 、张毅 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 33763-2017
- 发布日期
- 2017-05-31
- 实施日期
- 2017-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H25
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
相近标准
- GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
- 20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
- SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
- SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
- GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
- GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法
- GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
- 20240142-T-469 蓝宝石单晶衬底抛光片
- SJ/T 10557.3-1994 电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法
- GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。