



标准简介
国家标准《砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。
主要起草单位北京有色金属研究总院。
主要起草人王彤涵 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 11068-2006
- 发布日期
- 2006-07-18
- 实施日期
- 2006-11-01
- 全部代替标准
- GB/T 11068-1989
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H17
- 国际标准分类号
- 77.040.01
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会、全国有色金属标准化技术委员会
- 副归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准委
相近标准
- GB/T 14146-2021 硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
- GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
- GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
- 20231115-T-469 LED外延芯片用砷化镓衬底
- 20243065-T-469 激光器外延芯片用砷化镓衬底
- YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
- YS/T 14-1991 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法
- GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
- YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法
- YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。