荣誉资质图片

cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

标准简介

国家标准《表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法》由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国计量科学院。

主要起草人王海 、王梅玲 、张艾蕊 、宋小平 。

标准基本信息

标准号
GB/T 34326-2017
发布日期
2017-09-29
实施日期
2018-08-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 16531:2013。

采标中文名称:表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准及相关电流或电流密度测量。

相近标准

20240152-T-469  表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法
20240005-T-469  表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析
GB/T 29557-2013  表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
20233734-T-469  表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 41064-2021  表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
GB/T 40109-2021  表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
SJ/T 10457-1993  俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则
GB/T 20175-2006  表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 32495-2016  表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
GB/T 32997-2016  表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程

我们的实力

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

部分实验仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。