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标准简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所。
主要起草人席善斌 、彭浩 、陈伟 、林东生 、杨善潮 、金晓明 、郭旗 、陆妩 、崔波 、陈海蓉 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 4937.17-2018
- 发布日期
- 2018-09-17
- 实施日期
- 2019-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-17:2003。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照。
相近标准
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