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标准简介
国家标准计划《半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施。
主要起草单位工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、广州盟标质量检测技术服务有限公司、吉林华微电子股份有限公司、广微（中山）智能科技有限公司。
主要起草人何玉娟 、张战刚 、恩云飞 、雷志锋 、彭超 、席善斌 、来萍 、黄云 、何小琦 、李强 、常江 、张晓全 、曹宏建 、杨少华 。
标准基本信息
- 计划号
- 20201546-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2020-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
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