(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人张艳杰 、崔万国 、裴选 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 4937.34-2024
- 发布日期
- 2024-03-15
- 实施日期
- 2024-07-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-34:2010。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环。
相近标准
- 20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
- 20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
- 20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
- 20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
- 20231752-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
- 20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
- 20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
- 20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度
- 20193135-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第7部分：内部水汽测量和其他残余气体分析
- 20201542-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
