



标准简介
国家标准《半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、北京通美晶体技术股份有限公司、山东有研半导体材料有限公司、弘元新材料(包头)有限公司、哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、丹东新东方晶体仪器有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、江苏卓远半导体有限公司、新美光(苏州)半导体科技有限公司。
主要起草人何烜坤 、刘立娜 、李素青 、庞越 、马春喜 、许蓉 、任殿胜 、王元立 、朱晓彤 、李向宇 、杨阳 、潘金平 、王书明 、赵松彬 、林泉 、李国平 、张新峰 、赵丽丽 、夏秋良 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 42676-2023
- 发布日期
- 2023-08-06
- 实施日期
- 2024-03-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准委
相近标准
- 20243098-T-609 精细陶瓷(先进陶瓷、先进技术陶瓷) 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜(晶圆)结晶质量的方法
- 20240596-T-610 锂离子电池正极材料检测方法 晶体结构的测定 X射线衍射法
- 20231111-T-469 半导体单晶材料透过率测试方法
- JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- SL 547-2011 水工金属结构残余应力测试方法 X射线衍射法
- 20213170-T-339 半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
- 20231300-T-469 X射线衍射法测定含碳耐火材料中的还原性物质
- SH/T 1827-2019 塑料 结晶度的测定 X射线衍射法
- SN/T 3975-2014 矾土矿的鉴别方法X射线衍射法
- SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。