半导体单晶材料透过率测试方法

发布时间:2025-03-01 11:54:04 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准计划《半导体单晶材料透过率测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位中国电子科技集团公司第四十六研究所、有研国晶辉新材料有限公司、有研半导体硅材料股份公司、布鲁克(北京)科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。

标准基本信息

计划号
20231111-T-469
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2023-12-01
标准类别
方法
国际标准分类号
77.040
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

相近标准

20233951-T-610  非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
JC/T 2020-2010  透光性精细陶瓷透过率的测试方法
GB/T 4326-2006  非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 36403-2018  红外光学玻璃红外透过率测试方法 傅里叶变换法
20231578-T-339  半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第5部分:柔性材料热特性测试方法
GB/T 11297.7-1989  锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
20201545-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第39 部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量
GB/T 28765-2012  包装材料 塑料薄膜、片材和容器的有机气体透过率试验方法
GB/T 22921-2008  纸和纸板 薄页材料水蒸气透过率的测定 动态气流法和静态气体法
GB/T 42271-2022  半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
检测标准 半导体单晶材料透过率测试方法

检测资质

权威认证,确保检测数据的准确性和可靠性

CMA认证

CMA认证

中国计量认证

CNAS认证

CNAS认证

中国合格评定国家认可委员会

ISO认证

ISO认证

质量管理体系认证

行业资质

行业资质

多项行业权威认证

了解我们

专业团队,丰富经验,为您提供优质的检测服务

了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们 了解我们

先进检测设备

引进国际先进仪器设备,确保检测数据的准确性和可靠性

精密检测仪器

精密光谱分析仪

用于材料成分分析和元素检测,精度可达ppm级别

色谱分析仪器

高效液相色谱仪

用于食品安全检测和化学成分分析,分离效率高

材料测试设备

万能材料试验机

用于材料力学性能测试,可进行拉伸、压缩等多种测试

热分析仪器

差示扫描量热仪

用于材料热性能分析,测量相变温度和热焓变化

显微镜设备

扫描电子显微镜

用于材料微观结构观察,分辨率可达纳米级别

环境检测设备

气相色谱质谱联用仪

用于复杂有机化合物的分离和鉴定,灵敏度高

我们的优势

选择中科光析,选择专业与信赖

权威资质

具备CMA、CNAS等多项国家级资质认证,检测报告具有法律效力

先进设备

引进国际先进检测设备,确保检测数据的准确性和可靠性

专业团队

拥有经验丰富的检测工程师和技术专家团队

快速响应

7×24小时服务热线,快速响应客户需求,及时出具检测报告

需要专业检测服务?

我们的专业技术团队随时为您提供咨询和服务支持,欢迎随时联系我们

在线咨询工程师

定制实验方案

24小时专业客服在线

需要检测服务?

专业工程师在线解答

400-640-9567

全国服务热线

查看报告模版