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标准简介
国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州华宇电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、深圳市标准技术研究院、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、惠州市特创电子科技股份有限公司、佛山市毅丰电器实业有限公司。
主要起草人刘玮 、石东升 、晋李华 、彭勇 、闫萌 、张鑫 、彭浩 、崔波 、魏兵 、赵鹏 、麦日容 、徐昕 、米村艳 、何黎 、陈金星 、吴卫斌 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 42706.2-2023
- 发布日期
- 2023-05-23
- 实施日期
- 2023-09-01
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.020
- 归口单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62435-2:2017。
采标中文名称:电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理。
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