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标准简介
国家标准计划《半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后6个月正式实施。
主要起草单位中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司。
主要起草人万永康 、何静 、虞勇坚 、季伟伟 、宋国栋 、帅喆 、凌勇 、印琴 、张凯虹 、李锟 、贺致远 、李德建 、李飞 、常婷婷 、苏卡 。
标准基本信息
- 计划号
- 20221733-Z-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 16个月
- 下达日期
- 2022-12-30
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
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