电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆

发布时间:2024-12-24 19:53:53 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准《电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽安芯电子科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、深圳市标准技术研究院、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、山东省中智科标准化研究院有限公司、广东伟照业光电节能有限公司。

主要起草人闫萌 、彭浩 、晋李华 、汪良恩 、石东升 、张鑫 、刘玮 、魏兵 、赵鹏 、杨洋 、徐昕 、麦日容 、高瑞鑫 、米村艳 、何黎 、于洋 、董鸿亮 。

标准基本信息

标准号
GB/T 42706.5-2023
发布日期
2023-05-23
实施日期
2023-09-01
标准类别
基础
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62435-5:2017。

采标中文名称:电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆。

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检测标准 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆

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