(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北工诺检测技术有限公司、深圳市金泰克半导体有限公司、合肥德宽信息技术有限责任公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、湖北华远检测技术有限公司。
主要起草人赵海龙 、聂丛伟 、李创锋 、彭浩 、高东阳 、张魁 、尹丽晶 、冉红雷 、王英程 、李敏 、顾小平 、黄伟 、辛长林 、宁仁祥 、唐力 、朱玉珂 。
标准基本信息
- 计划号
- 20204847-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 18个月
- 下达日期
- 2020-12-24
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
相近标准
- 20204846-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
- 20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
- 20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
- 20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法
- 20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
- 20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
