荣誉资质图片

cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

标准简介

国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。拟实施日期:发布后3个月正式实施。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、广州毅昌科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、安徽钜芯半导体科技有限公司、广州海关技术中心、广州云检测科学研究院有限公司、广东仁懋电子有限公司。

主要起草人高东阳 、魏兵 、陈汝文 、彭浩 、赵海龙 、裴选 、宋玉玺 、武利会 、曹孙根 、王英程 、吴福娣 、蓝春浩 、郭新峰 、仇亮 。

标准基本信息

计划号
20204846-T-339
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2020-12-24
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

相近标准

20204847-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法
20201539-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法
20201540-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击
20201546-T-339  半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
20193134-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封
20201547-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
20141818-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
20231752-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性
20231876-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级
20201541-T-339  半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度

我们的实力

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

部分实验仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。