(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准计划《声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布即实施。
主要起草单位中国电子科技集团公司第二十六研究所、中电科技德清华莹电子有限公司、天通控股股份有限公司、北京石晶光电科技股份有限公司。
主要起草人石自彬 、贝伟斌 、徐秋峰 、朱中晓 。
标准基本信息
- 计划号
- 20194111-T-339
- 制修订
- 修订
- 项目周期
- 24个月
- 下达日期
- 2020-01-13
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L21
- 国际标准分类号
- 31.140
- 归口单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
相近标准
- GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
- 20241911-T-469 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片
- 20250748-T-609 金刚石单晶片
- 20242746-T-339 射频(RF)声表面波(SAW)及体声波(BAW)器件功率耐久性测试指南
- GB/T 43023-2023 射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南
- 20231108-T-469 碳化硅单晶片微管密度测试方法
- GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
- GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片
- GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法
- 20231112-T-469 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
