半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮

发布时间:2025-03-02 18:04:29 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位中国电子科技集团公司第五十五研究所。

主要起草人佘茜玮 、包雷 、陈雷 、胡宁 、王瑞曾 、吴维丽 。

标准基本信息

计划号
20141819-T-339
制修订
制定
项目周期
24个月
下达日期
2014-12-23
标准类别
方法
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

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检测标准 半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮

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