(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
行业标准《半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
主要起草单位中电子科技集团公第四十四研究所。
主要起草人郭萍 、王波 、崔大键 。
标准基本信息
- 标准号
- SJ/T 2214-2015
- 发布日期
- 2015-04-30
- 实施日期
- 2015-10-01
- 全部代替标准
- SJ/T 2214.1～ 2214.10-1982
- 中国标准分类号
- L54
- 国际标准分类号
- 31.080
- 归口单位
- 工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 主管部门
- 工业和信息化部
- 行业分类
- 无
备案信息
备案号：50541-2015。
备案公告： 2015年第7号 。
相近标准
- GB/T 15651.7-2024 半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
- SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
- 20230652-T-339 半导体器件 能量收集和产生半导体器件 第5部分：测量柔性热电器件发电功率的测试方法
- 20231113-T-469 半导体晶片直径测试方法
- 20240786-T-339 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法
- 20231111-T-469 半导体单晶材料透过率测试方法
- 20231878-T-339 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第7部分：柔性有机半导体封装薄膜阻挡特性测试方法
- SJ/T 2217-2014 硅光电晶体管技术规范
- 20231578-T-339 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第5部分：柔性材料热特性测试方法
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
