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标准简介
国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。
主要起草人何紫军 、冯地直 、程宇 、黎阳 、陈琳 、荆旭华 、刘卓 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 30869-2014
- 发布日期
- 2014-07-24
- 实施日期
- 2015-02-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
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