(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南》由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位北京师范大学分析测试中心。
主要起草人吴正龙 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 30702-2014
- 发布日期
- 2014-03-27
- 实施日期
- 2014-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
- 归口单位
- 全国表面化学分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国表面化学分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 18118:2004。
采标中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南。
相近标准
- GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
- GB/T 28893-2024 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- 20232363-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- 20232364-T-469 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
- 20240165-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
