(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。
主要起草人李丽霞 、陈海蓉 、崔波 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 4937.4-2012
- 发布日期
- 2012-11-05
- 实施日期
- 2013-02-15
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-4:2002。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)。
相近标准
- 20141817-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
- 20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度
- 20141819-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分:加速耐湿-无偏置高压蒸煮
- 20204846-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
- 20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击
- 20061451-T-339 电子设备用连接器 试验和测量 第11-3部分：气候试验 试验11c：稳态湿热
- 20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验
- 20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
- 20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法
- 20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
