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标准简介
国家标准《纳米技术 二硫化钼薄片的层数测量 拉曼光谱法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位中国科学院半导体研究所、河北大学、泰州巨纳新能源有限公司、东南大学、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、堀场（中国）贸易有限公司、中国科学院物理研究所、天津大学、国家纳米科学中心。
主要起草人谭平恒 、刘雪璐 、林妙玲 、李晓莉 、丁荣 、章琦 、倪振华 、黄卫明 、沈婧 、杨洋 、何清 、高洁 、邵悦 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 44935-2024
- 发布日期
- 2024-12-31
- 实施日期
- 2025-07-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N35
- 国际标准分类号
- 17.180.30
- 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
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