纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

发布时间:2025-01-20 12:18:17 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。

主要起草人郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。

标准基本信息

标准号
GB/T 44075-2024
发布日期
2024-05-28
实施日期
2024-12-01
标准类别
方法
中国标准分类号
A42
国际标准分类号
17.040.20
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

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检测标准 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

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