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标准简介
国家标准计划《半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、工业和信息化部电子五所、中国电子技术标准化研究院。
标准基本信息
- 计划号
- 20231576-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 16个月
- 下达日期
- 2023-12-01
- 标准类别
- 方法
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
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