光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
发布时间：2025-01-19 07:08:02
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》由TC103（全国光学和光子学标准化技术委员会）归口，TC103SC5（全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会）执行，主管部门为中国兵器工业集团公司。
主要起草单位浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司。
主要起草人杨甬英 、曹频 、李刚 、杨李茗 、刘旭 、刘世杰 、胡丽丽 、徐晓飞 、李炜娜 、麦启波 、黄木旺 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 41805-2022
- 发布日期
- 2022-10-12
- 实施日期
- 2023-05-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N05
- 国际标准分类号
- 81.040.01
- 归口单位
- 全国光学和光子学标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会
- 主管部门
- 中国兵器工业集团公司
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