(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院。
主要起草人柳得橹 、娄艳芝 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 20724-2021
- 发布日期
- 2021-12-31
- 实施日期
- 2022-07-01
- 全部代替标准
- GB/T 20724-2006
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
相近标准
- GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
- 20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
- 20233283-T-469 微束分析 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
- 20231560-T-469 微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法
- 20231333-T-469 微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- 20233281-T-469 微束分析 电子探针显微分析 硅酸盐矿物的定量分析
- 20220440-T-469 微束分析 岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法
- 20233280-T-469 微束分析 电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法
- 20241615-T-469 微束分析 稀土矿物的电子探针定量分析方法
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
