超高频射频识别(RFID)芯片测试方法

标准简介

地方标准《超高频射频识别(RFID)芯片测试方法》由广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）归口上报，主管部门为广东省质量技术监督局。

主要起草单位中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司。

主要起草人文光俊 、李建 、蒋晖 、赵文强 、王耀 、徐永键 、徐广健 、陆许明 、罗国章 、程文彬 、冷小冰 、闫胜利 、万其明 、王伟 。

标准基本信息

标准号

DB44/T 1905-2016

发布日期

2016-09-29

实施日期

2016-12-29

中国标准分类号

L80

国际标准分类号

35.040

归口单位

广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）

主管部门

广东省质量技术监督局

行业分类

制造业

备案信息

备案号：52766-2017。

备案公告： 2017年第3号 。

适用范围

超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试

相近标准

暂无

我们的实力

部分实验仪器

合作客户

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。