电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
发布时间：2025-03-22 16:43:14
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
主要起草单位电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。
主要起草人曾成 、罗正祥 、补世荣 、魏斌 、吉争鸣 、孙亮 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 22586-2018
- 发布日期
- 2018-03-15
- 实施日期
- 2018-10-01
- 全部代替标准
- GB/T 22586-2008
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040.99
- 归口单位
- 全国超导标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国超导标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
采标情况
本标准修改采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。
采标中文名称:超导电性 第7部分：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻。
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