半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
发布时间：2025-01-30 13:09:59
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准委。
主要起草单位核工业标准化研究所。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 11685-2003
- 发布日期
- 2003-07-07
- 实施日期
- 2004-01-01
- 全部代替标准
- GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- F80
- 国际标准分类号
- 27.120.01
- 归口单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会
- 主管部门
- 国家标准委
采标情况
本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60759:1983。
采标中文名称:。
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