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结构陶瓷片相关标准参考信息
NF B41-203-1993 高技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第2部分:密度及孔隙度的测定
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NF B41-203-1993 高技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第2部分:密度及孔隙度的测定
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NF B41-203-1993 高技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第2部分:密度及孔隙度的测定
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NF B41-202-1995 高级陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
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NF B41-202-1995 高级陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
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NF B41-202-1995 高级陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
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NF B41-202-5-2009 高级陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微照片评价法测定相位体积分率
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NF B41-202-5-2009 高级陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微照片评价法测定相位体积分率
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NF B41-202-1-2006 高级工业陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染料渗透法对存在缺陷进行测定
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NF B41-202-1-2006 高级工业陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染料渗透法对存在缺陷进行测定
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BS EN 623-5:2009 高级工业陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数
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BS EN 623-5:2009 高级工业陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数
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BS EN 623-5:2009 高级工业陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数
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DIN EN 623-3:2003 高级工业陶瓷.单片陶瓷.总则和结构特性.第3部分:粒度和粒度分布测定(用线性截断法表征)
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DIN EN 623-3:2003 高级工业陶瓷.单片陶瓷.总则和结构特性.第3部分:粒度和粒度分布测定(用线性截断法表征)
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DIN EN 623-3:2003 高级工业陶瓷.单片陶瓷.总则和结构特性.第3部分:粒度和粒度分布测定(用线性截断法表征)
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DIN EN 623-5:2009 先进技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数,德文版本EN 623-5:2009
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DIN EN 623-5:2009 先进技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数,德文版本EN 623-5:2009
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DIN EN 623-5:2009 先进技术陶瓷.单片陶瓷.一般和结构特性.第5部分:利用显微图像评估法测定相体积分数,德文版本EN 623-5:2009
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CSN ON 72 3580-1967 陶瓷部件用于垂直结构
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CSN ON 72 3580-1967 陶瓷部件用于垂直结构
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BS ISO 13383-2:2012 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 微观结构特性. 通过显微照片评估对相体积分数的测定
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GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料
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GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料
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GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料
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GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
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GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
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GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
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DIN 25705:1993 烧结的核燃料片的陶瓷相学
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DIN 25705:1993 烧结的核燃料片的陶瓷相学
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DIN 25705:1993 烧结的核燃料片的陶瓷相学
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NF B41-204-2-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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NF B41-204-2-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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NF B41-204-2-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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ISO 13383-2:2012 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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ISO 13383-2:2012 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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ISO 13383-2:2012 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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EN ISO 13383-2:2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量
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