



标准简介
国家标准计划《微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国科学技术大学、安徽大学、新疆师范大学、中国科学院合肥物质研究院。
标准基本信息
- 计划号
- 20231337-T-469
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 16个月
- 下达日期
- 2023-12-01
- 标准类别
- 方法
- 国际标准分类号
- 71.040.40
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
相近标准
- 20241617-T-469 微束分析 体电子显微术 生物材料的聚焦离子束扫描电子显微镜三维成像方法
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
- GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语
- GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法
- 20231333-T-469 微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
- 20241969-T-469 微束分析 分析电子显微术 用于电子能量损失谱元素分析的能量标尺校准程序
- 20232637-T-469 微束分析 油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法
- 20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
- GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
- 20231342-T-469 微束分析 透射电子显微术 聚合物复合材料超薄切片制备方法
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。