微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
发布时间：2025-01-24 04:20:46
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位北京科技大学。
主要起草人权茂华 、柳得橹 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 43087-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N33
- 国际标准分类号
- 71.040.50
- 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
采标情况
本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263:2017。
采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法。
