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信息概要
质量交换容X射线衍射（XRD）检测是一种通过X射线衍射技术分析材料晶体结构、物相组成及微观结构的检测方法。该技术广泛应用于材料科学、化工、冶金、制药等领域，能够精确测定材料的晶格参数、结晶度、残余应力等关键指标。检测的重要性在于其为产品质量控制、工艺优化及研发创新提供科学依据，确保材料性能符合行业标准和应用需求。
检测项目
物相定性分析,物相定量分析,晶格常数测定,结晶度测定,残余应力分析,晶粒尺寸计算,微观应变分析,织构分析,薄膜厚度测量,择优取向分析,晶体结构精修,非晶含量测定,相变温度测定,热膨胀系数测定,晶体缺陷分析,多晶型鉴定,晶体取向分布,晶体生长方向测定,晶体对称性分析,晶体学参数计算
检测范围
金属材料,陶瓷材料,高分子材料,复合材料,纳米材料,催化剂,矿物,药品,半导体材料,电池材料,涂层材料,薄膜材料,玻璃材料,水泥材料,磁性材料,光学材料,生物材料,环境材料,聚合物,合金材料
检测方法
粉末X射线衍射法：通过分析粉末样品的衍射图谱确定物相组成。
掠入射X射线衍射法：用于薄膜或表面层的结构分析。
高分辨率X射线衍射法：精确测定晶格常数和微观应变。
小角X射线散射法：分析纳米尺度结构特征。
原位X射线衍射法：实时监测材料在温度或压力变化下的结构演变。
全谱拟合精修法：通过Rietveld精修确定晶体结构参数。
应力测定法：利用衍射峰位移计算材料残余应力。
织构测定法：分析多晶材料的择优取向。
变温X射线衍射法：研究材料相变行为。
微区X射线衍射法：对微小区域进行结构分析。
同步辐射X射线衍射法：利用高亮度光源提高检测灵敏度。
能量色散X射线衍射法：适用于高压或极端条件下的检测。
二维X射线衍射法：快速获取空间分辨的结构信息。
掠出射X射线衍射法：分析表面或界面结构。
时间分辨X射线衍射法：追踪材料动态结构变化过程。
检测仪器
X射线衍射仪,粉末衍射仪,高分辨率衍射仪,小角散射仪,原位衍射装置,微区衍射系统,二维探测器,同步辐射光源,应力分析仪,织构测角仪,变温附件,高压衍射装置,薄膜衍射系统,能量色散探测器,快速衍射采集系统
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
