(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
超纯介质阀门是半导体制造、生物医药、精密电子等高技术领域中关键的流体控制元件，其洁净度直接影响工艺介质的纯度与产品质量。颗粒物检测是评估阀门内部清洁度的核心指标，旨在通过量化分析残留颗粒的数量、尺寸及成分，确保阀门在极端工况下不引入污染。第三方检测机构依托专业设备与标准化流程，为客户提供权威的颗粒物检测服务，满足ISO 14644-1、SEM E19等国际标准要求，助力产品认证与质量管控。
检测项目
颗粒总数,粒径分布,金属颗粒占比,非金属颗粒占比,有机物残留量,无机物残留量,颗粒形状分析,表面污染指数,清洁度等级,颗粒附着强度,气流阻力测试,密封性验证,腐蚀性颗粒检测,静电吸附效应,热稳定性测试,材料相容性评估,微粒迁移率,表面粗糙度关联分析,清洗工艺有效性,颗粒沉积趋势预测
检测范围
不锈钢超纯阀门,钛合金阀门,聚四氟乙烯阀门,隔膜阀,球阀,截止阀,针阀,止回阀,电磁阀,角座阀,蝶阀,闸阀,柱塞阀,取样阀,排污阀,安全阀,减压阀,调节阀,泄压阀,真空阀门
检测方法
激光粒度分析法：通过光散射原理测量颗粒尺寸分布
扫描电子显微镜（SEM）：观察颗粒微观形貌与元素组成
能量色散X射线光谱（EDS）：定性定量分析颗粒化学成分
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：识别有机污染物分子结构
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：检测痕量金属元素含量
光学显微镜计数法：人工统计颗粒数量与形态
气相色谱-质谱联用（GC-MS）：分析挥发性有机物残留
热重分析（TGA）：评估颗粒热稳定性
动态光散射（DLS）：测量亚微米颗粒Zeta电位
X射线衍射（XRD）：确定颗粒晶体结构
表面等离子体共振（SPR）：检测纳米级表面吸附物
超声波萃取法：收集阀体内滞留颗粒
压差冲击测试：模拟实际工况下的颗粒释放
接触角测量：分析材料表面润湿性与污染关联
三维轮廓仪：量化表面粗糙度与颗粒附着关系
检测仪器
激光粒度仪,扫描电子显微镜,能谱仪,傅里叶红外光谱仪,电感耦合等离子体质谱仪,光学显微镜,气相色谱-质谱联用仪,热重分析仪,动态光散射仪,X射线衍射仪,表面等离子体共振仪,超声波清洗器,压差传感器,接触角测量仪,三维轮廓仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
