(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
颗粒表征技术是分析颗粒物理化学特性的关键检测手段，涵盖粒径分布、形貌、表面特性等核心参数。该检测对纳米材料、制药、化工等行业至关重要，直接影响产品稳定性、生物利用度及工艺优化。通过精准表征可确保材料性能一致性，避免因颗粒团聚或分布不均导致的质量缺陷，为研发创新与质量控制提供数据支撑。
检测项目
粒径分布, Zeta电位, 比表面积, 孔体积, 孔隙度, 颗粒浓度, 团聚指数, 球形度, 长径比, 表面粗糙度, 密度, 流动性, 吸湿性, 元素组成, 晶型结构, 热稳定性, 表面电荷, 润湿角, 药物包封率, 分散稳定性
检测范围
纳米颗粒, 微米颗粒, 碳黑, 金属粉末, 陶瓷粉体, 药物颗粒, 乳液液滴, 颜料, 催化剂, 聚合物微粒, 气溶胶, 矿物粉体, 电池材料, 化妆品粉体, 食品添加剂, 水泥, 石墨烯, 磁性颗粒, 硅胶微球, 纤维素颗粒
检测方法
激光衍射法：通过颗粒散射光模式反演粒径分布，覆盖0.1-3000μm范围
动态光散射：测量布朗运动导致的散射光波动，用于纳米颗粒粒径分析
电泳光散射：施加电场测定颗粒迁移速度，计算Zeta电位
气体吸附法：利用氮气吸附等温线计算比表面积和孔径分布
扫描电镜：电子束扫描获得微米级形貌及表面结构信息
透射电镜：高分辨率观测纳米级颗粒内部结构及晶体特征
原子力显微镜：探针扫描三维表面形貌，分辨率达原子级别
X射线衍射：通过衍射图谱分析晶型结构和结晶度
离心沉降法：基于斯托克斯定律测定密度梯度下的沉降速度
图像分析法：结合光学显微镜统计颗粒形貌参数
库尔特计数法：电阻变化原理精确计量单颗粒体积浓度
超声衰减法：利用声波能量衰减表征高浓度悬浮液粒径
拉曼光谱：分子振动光谱识别颗粒表面化学组成
热重分析：温度程序控制下监测颗粒质量变化
静态光散射：多角度散射光强测定绝对分子量及构型
检测仪器
激光粒度仪, Zeta电位仪, 比表面分析仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, 原子力显微镜, X射线衍射仪, 动态光散射仪, 离心沉降仪, 库尔特计数器, 超声谱仪, 拉曼光谱仪, 热重分析仪, 静态光散射仪, 图像分析系统
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
