集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
发布时间：2025-03-03 03:19:27
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准计划《集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布即实施。
主要起草单位中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯（青岛）微电子有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中国合格评定国家认可中心、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、浙江大学、南京容向测试设备有限公司、北京航空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中山大学、深圳市中兴微电子技术有限公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、中国信息通信研究院、南京师范大学、中家院（北京）检测认证有限公司、深圳硅山技术有限公司。
主要起草人崔强 、龙跃 、付君 、阎照文 、褚瑞 、方文啸 、吴建飞 、杨红波 、王新才 、朱赛 、张学磊 、陈梅双 、刘佳 、梁吉明 、邵伟恒 、魏兴昌 、沈学其 、雷黎丽 、龙发明 、谢利涛 、杨博 、王紫任 、颜伟 、王芳 、韦寿德 。
标准基本信息
- 计划号
- 20214069-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 18个月
- 下达日期
- 2021-10-13
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
- 归口单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
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