半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求
发布时间：2025-04-09 20:32:34
•
阅读量：
•
来源：中析研究所
标准简介
国家标准计划《半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、中标联检验检测认证集团河南有限公司、深圳市创智成功科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、厦门旌存半导体技术有限公司、广州海关技术中心、中山奥士森电子有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、江苏上达半导体有限公司、佛山市蓝箭电子股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司。
主要起草人裴选 、彭浩 、姚玉 、郭新峰 、席善斌 、宋玉玺 、高东阳 、蒙肇芸 、汪之涵 、和巍巍 、李华辉 、龙秀才 、王英程 、裴晓波 、林钰岚 、尹丽仪 、孙彬 、张国光 、魏兵 。
标准基本信息
- 计划号
- 20201537-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 18个月
- 下达日期
- 2020-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
相近标准
- YS/T 1697-2024 锡及锡合金生产绿色工厂评价要求
- SN/T 4558-2016 出口食品中三环锡（三唑锡）和苯丁锡含量的测定
- YS/T 1580-2022 锡及锡合金拉伸试验方法
- GB/T 21180-2007 锡及锡合金废料
- YS/T 1679-2023 锡及锡合金分析方法 光电直读光谱法
- SN/T 2687-2010 旧机电产品中三丁基锡和三苯基锡的测定 气相色谱-质谱法
- 20250362-T-607 皮革和毛皮 化学试验 有机锡化合物的测定
- SN/T 1990-2007 进出口食品中三唑锡和三环锡残留量的检测方法 气相色谱-质谱法
- YS/T 1120.2-2016 金锡合金化学分析方法 第2部分：锡量的测定 氟化物析出EDTA络合滴定法
- GB/T 33353-2016 电子电气产品中的限用物质三丁基锡和三苯基锡的测定 气相色谱-质谱法
