(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
标准简介
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司。
主要起草人江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 5594.8-2015
- 发布日期
- 2015-05-15
- 实施日期
- 2016-01-01
- 全部代替标准
- GB/T 5594.8-1985
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L90
- 国际标准分类号
- 31-030
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
相近标准
- GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法
- GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法
- GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
- GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
