石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
发布时间：2025-01-24 03:28:57
•
阅读量：
•
来源：中析研究所
标准简介
国家标准《石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。
主要起草人章怡 、梁生元 、胡志雄 、邹飞 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 22319.7-2015
- 发布日期
- 2015-06-02
- 实施日期
- 2016-02-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L21
- 国际标准分类号
- 31.140
- 归口单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60444-7:2004。
采标中文名称:石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量。
相近标准
- 20202533-T-339 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
- GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
- SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
- GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
- 20214732-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第6部分 有热敏电阻的晶体元件
- 20233710-T-339 有质量评定的石英晶体元件 第1部分：总规范
- SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语
