利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

发布时间:2025-01-24 00:05:36 阅读量: 来源:中析研究所

标准简介

国家标准《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。

主要起草单位国家纳米科学中心。

主要起草人朱晓阳 、杨延莲 、贺蒙 、高洁 。

标准基本信息

标准号
GB/T 27760-2011
发布日期
2011-12-30
实施日期
2012-05-01
标准类别
方法
中国标准分类号
N04
国际标准分类号
19.020
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

采标情况

本标准修改采用其他国际标准:ASTM E 2530-2006。

采标中文名称:利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法。

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检测标准 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

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