半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
发布时间：2025-02-06 19:26:36
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来源：中析研究所
标准简介
国家标准《半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位中国电子技术标准化研究所。
主要起草人黄英华 、刘筠 、张建勇 、蒋迪宝 。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 24468-2009
- 发布日期
- 2009-10-15
- 实施日期
- 2009-12-01
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- L85
- 国际标准分类号
- 17.040.30
- 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准委
采标情况
本标准修改采用其他国际标准：SEMI E10-0304:2004。
采标中文名称:设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范。
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