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标准简介
国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位华禹光谷股份有限公司半导体厂。
标准基本信息
- 标准号
- GB/T 15651.3-2003
- 发布日期
- 2003-11-24
- 实施日期
- 2004-08-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L50
- 国际标准分类号
- 31.260
- 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。
采标中文名称:。
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