荣誉资质图片

cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

金属显微镜相关标准参考信息

STAS 5949-1980 钢材中非金属物质测定.显微镜方法
简介: 信息:

STAS 5949-1980 钢材中非金属物质测定.显微镜方法
简介: 信息:

STAS 5949-1980 钢材中非金属物质测定.显微镜方法
简介: 信息:

CNS 2910-2008 钢内非金属介在物之显微镜试验法
简介: 信息:

CNS 2910-2008 钢内非金属介在物之显微镜试验法
简介: 信息:

CNS 2910-2008 钢内非金属介在物之显微镜试验法
简介: 信息:

CNS 2910-1986 钢内非金属夹杂物之显微镜试验方法
简介: 信息:

CNS 2910-1986 钢内非金属夹杂物之显微镜试验方法
简介: 信息:

CNS 2910-1986 钢内非金属夹杂物之显微镜试验方法
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ASTM C1322-02 高级陶瓷中断裂点的金属断裂显微镜观查和表征的标准实施规程
简介: 信息:

ARMY MIL-HDBK-790 CHG NOTICE 2-1993 金属断面的显微镜观察和在先进建筑陶瓷中的断裂源描述
简介: 信息:

ARMY MIL-HDBK-790 CHG NOTICE 2-1993 金属断面的显微镜观察和在先进建筑陶瓷中的断裂源描述
简介: 信息:

ARMY MIL-HDBK-790 CHG NOTICE 2-1993 金属断面的显微镜观察和在先进建筑陶瓷中的断裂源描述
简介: 信息:

SIS SS 11 11 16-1987 钢.非金属杂质含量评价方法,显微镜法非金属杂质含量评价Jernkontorets杂质图表II
简介: 信息:

SIS SS 11 11 16-1987 钢.非金属杂质含量评价方法,显微镜法非金属杂质含量评价Jernkontorets杂质图表II
简介: 信息:

SIS SS 11 11 16-1987 钢.非金属杂质含量评价方法,显微镜法非金属杂质含量评价Jernkontorets杂质图表II
简介: 信息:

GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
简介: 信息:

GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
简介: 信息:

GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
简介: 信息:

UNI 7604-1976 用复制品进行的金属材料电子显微镜检测.显微照相检测用复制品的准备
简介: 信息:

UNI 7604-1976 用复制品进行的金属材料电子显微镜检测.显微照相检测用复制品的准备
简介: 信息:

UNI 7604-1976 用复制品进行的金属材料电子显微镜检测.显微照相检测用复制品的准备
简介: 信息:

KS D 0204-2007 钢中非金属杂质的含量测定.显微镜试验方法
简介: 信息:

KS D 0204-2007 钢中非金属杂质的含量测定.显微镜试验方法
简介: 信息:

KS D 0204-2007 钢中非金属杂质的含量测定.显微镜试验方法
简介: 信息:

CNS 12114-1987 金属镀层与金属氧化层用横截面显微镜式厚度测定法
简介: 信息:

CNS 12114-1987 金属镀层与金属氧化层用横截面显微镜式厚度测定法
简介: 信息:

CNS 12114-1987 金属镀层与金属氧化层用横截面显微镜式厚度测定法
简介: 信息:

STAS 10552-1976 用奥氏体钢显微镜测定堆焊金属中铁含量
简介: 信息:

STAS 10552-1976 用奥氏体钢显微镜测定堆焊金属中铁含量
简介: 信息:

STAS 10552-1976 用奥氏体钢显微镜测定堆焊金属中铁含量
简介: 信息:

UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测.显微结构检测用复制品的准备
简介: 信息:

UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测.显微结构检测用复制品的准备
简介: 信息:

UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测.显微结构检测用复制品的准备
简介: 信息:

GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
简介: 信息:

GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
简介: 信息:

GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
简介: 信息:

ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法
简介: 信息:

ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法
简介: 信息:

ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法
简介: 信息:

我们的实力

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

部分实验仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。