(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
扫描电镜的相关标准参考信息
KS I 0051-1999(2019 扫描电子显微镜的一般规则
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：1999-12-31 实施：
KS I 0051-1999(2019 扫描电子显微镜的一般规则
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：1999-12-31 实施：
KS I 0051-1999(2019 扫描电子显微镜的一般规则
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：1999-12-31 实施：
ASTM E766-98(2003 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98(2003 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98(2003 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：1.1 This practice is designed to calibrate the magnification of scanning electron microscopes (SEMs) using the National Institute of Standards
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：1.1 This practice is designed to calibrate the magnification of scanning electron microscopes (SEMs) using the National Institute of Standards
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
简介：1.1 This practice is designed to calibrate the magnification of scanning electron microscopes (SEMs) using the National Institute of Standards
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5~10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度
信息：ICS：17.040.01 CCS：N33 发布：1996-11-04 实施：1997-04-01
GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5~10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度
信息：ICS：17.040.01 CCS：N33 发布：1996-11-04 实施：1997-04-01
GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法，适用于测量0.5~10μm的长度，也适用于电子探针分析仪测量微米级长度
信息：ICS：17.040.01 CCS：N33 发布：1996-11-04 实施：1997-04-01
ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10 to 50 000X.
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10 to 50 000X.
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
简介：Proper use of this practice can yield calibrated magnifications with precision of 5 % or better within a magnification range of from 10 to 50 000X.
信息：ICS：37.020 (Optical equipment) CCS：N33 发布：1998 实施：
GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2～10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1999-04-11 实施：1999-12-01
GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2～10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1999-04-11 实施：1999-12-01
GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法
简介：本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求，本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度，适用的厚度测量范围为0.2～10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1999-04-11 实施：1999-12-01
GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm～500nm的点或线的间距
信息：ICS：37.020.17.040 CCS：N33 发布：2006-07-19 实施：2007-02-01
GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm～500nm的点或线的间距
信息：ICS：37.020.17.040 CCS：N33 发布：2006-07-19 实施：2007-02-01
GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm～500nm的点或线的间距
信息：ICS：37.020.17.040 CCS：N33 发布：2006-07-19 实施：2007-02-01
GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的能用原则。适用于测量（0.5~10）μm的长度
信息：ICS：71.040.99 CCS：N53 发布：2008-09-18 实施：2009-05-01
GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的能用原则。适用于测量（0.5~10）μm的长度
信息：ICS：71.040.99 CCS：N53 发布：2008-09-18 实施：2009-05-01
GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
简介：本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的能用原则。适用于测量（0.5~10）μm的长度
信息：ICS：71.040.99 CCS：N53 发布：2008-09-18 实施：2009-05-01
ASTM E766-14(2019 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2019-11-01 实施：
ASTM E766-14(2019 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2019-11-01 实施：
ASTM E766-14(2019 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2019-11-01 实施：
ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：4.1x00a0;Proper use of this practice can yield calibrated
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2014 实施：
ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：4.1x00a0;Proper use of this practice can yield calibrated
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2014 实施：
ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
简介：4.1x00a0;Proper use of this practice can yield calibrated
信息：ICS：37.020 CCS： 发布：2014 实施：
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：
信息：ICS： CCS：N33 发布：2009-05-01 实施：2009-05-01
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：
信息：ICS： CCS：N33 发布：2009-05-01 实施：2009-05-01
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：
信息：ICS： CCS：N33 发布：2009-05-01 实施：2009-05-01
GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-06-02 实施：2021-05-01 00:00:00.0
GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-06-02 实施：2021-05-01 00:00:00.0
GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-06-02 实施：2021-05-01 00:00:00.0
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：本标准规定了用扫描电镜的X射线能谱仪，对黄金饰品含量进行无损的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于对各种纯金饰品和K金饰品含金量的测定，也可适用于各种镀金、包金、锻压金等表面含金层厚度大于3um的饰品表面层含金量的测定。本标准也适用于电子探针X射线能谱仪对黄金饰品的分析
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1998-05-08 实施：1998-12-01
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：本标准规定了用扫描电镜的X射线能谱仪，对黄金饰品含量进行无损的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于对各种纯金饰品和K金饰品含金量的测定，也可适用于各种镀金、包金、锻压金等表面含金层厚度大于3um的饰品表面层含金量的测定。本标准也适用于电子探针X射线能谱仪对黄金饰品的分析
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1998-05-08 实施：1998-12-01
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
简介：本标准规定了用扫描电镜的X射线能谱仪，对黄金饰品含量进行无损的定量分析方法的技术要求和规范。本标准适用于对各种纯金饰品和K金饰品含金量的测定，也可适用于各种镀金、包金、锻压金等表面含金层厚度大于3um的饰品表面层含金量的测定。本标准也适用于电子探针X射线能谱仪对黄金饰品的分析
信息：ICS：37.020 CCS：N33 发布：1998-05-08 实施：1998-12-01
T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的测定扫描电镜-能谱法
简介：本标准规定了采用扫描电镜-能谱法测定涂料中石墨烯材料的原理、试剂或材料、仪器设备、试验步骤、结果判定和试验报告等内容。本标准适用于石墨烯材料含量不低于1‰（质量分数）的涂料中石墨烯材料的定性测试
信息：ICS：87.040 CCS：C264 发布：2020-04-14 实施：2020-04-15
T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的测定扫描电镜-能谱法
简介：本标准规定了采用扫描电镜-能谱法测定涂料中石墨烯材料的原理、试剂或材料、仪器设备、试验步骤、结果判定和试验报告等内容。本标准适用于石墨烯材料含量不低于1‰（质量分数）的涂料中石墨烯材料的定性测试
信息：ICS：87.040 CCS：C264 发布：2020-04-14 实施：2020-04-15
T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的测定扫描电镜-能谱法
简介：本标准规定了采用扫描电镜-能谱法测定涂料中石墨烯材料的原理、试剂或材料、仪器设备、试验步骤、结果判定和试验报告等内容。本标准适用于石墨烯材料含量不低于1‰（质量分数）的涂料中石墨烯材料的定性测试
信息：ICS：87.040 CCS：C264 发布：2020-04-14 实施：2020-04-15
GB/T 36422-2018 化学纤维 微观形貌及直径的测定 扫描电镜法
简介：本标准规定了使用扫描电子显微镜对化学纤维的微观形貌进行观察及对纤维直径进行测定的试验方法。本标准适用于各类化学纤维及其制品的微观形貌及直径的测定，其中直径的测定仅适用于纤维横截面为圆形或接近圆形的化学纤维，其他材料可参照本标准执行
信息：ICS：59.060.20 CCS：W50 发布：2018-06-07 实施：2019-01-01
GB/T 36422-2018 化学纤维 微观形貌及直径的测定 扫描电镜法
简介：本标准规定了使用扫描电子显微镜对化学纤维的微观形貌进行观察及对纤维直径进行测定的试验方法。本标准适用于各类化学纤维及其制品的微观形貌及直径的测定，其中直径的测定仅适用于纤维横截面为圆形或接近圆形的化学纤维，其他材料可参照本标准执行
信息：ICS：59.060.20 CCS：W50 发布：2018-06-07 实施：2019-01-01
GB/T 36422-2018 化学纤维 微观形貌及直径的测定 扫描电镜法
简介：本标准规定了使用扫描电子显微镜对化学纤维的微观形貌进行观察及对纤维直径进行测定的试验方法。本标准适用于各类化学纤维及其制品的微观形貌及直径的测定，其中直径的测定仅适用于纤维横截面为圆形或接近圆形的化学纤维，其他材料可参照本标准执行
信息：ICS：59.060.20 CCS：W50 发布：2018-06-07 实施：2019-01-01
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
