(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
密度检测方法相关标准参考信息
T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法
简介：碳化硅（这里指4H-SiC）材料作为重要的第三代宽禁带半导体材料，具有高临界击穿场强、高的热导率、高的电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。近年，随着单晶和外延薄膜生长技术的不断发展，SiC单极型器件譬如肖特基二极管（SBD）及金属氧化物场效应晶体管
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法
简介：碳化硅（这里指4H-SiC）材料作为重要的第三代宽禁带半导体材料，具有高临界击穿场强、高的热导率、高的电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。近年，随着单晶和外延薄膜生长技术的不断发展，SiC单极型器件譬如肖特基二极管（SBD）及金属氧化物场效应晶体管
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
T/CASAS 013-2021 碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法
简介：碳化硅（这里指4H-SiC）材料作为重要的第三代宽禁带半导体材料，具有高临界击穿场强、高的热导率、高的电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。近年，随着单晶和外延薄膜生长技术的不断发展，SiC单极型器件譬如肖特基二极管（SBD）及金属氧化物场效应晶体管
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
T/IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
简介：随着SiC产业的发展，获得完美表面的SiC单晶抛光片已成为碳化硅材料应用的关键环节之一。为了制造高性能的SiC电力电子器件，要求晶片晶格完整，具有平整度极高的无损伤超平滑表面，且无晶向偏差。因为即使表面存在微小缺陷，都会破坏晶体材料的表面性能，甚至导致结晶构造的变化，影响器件的电学性能。现行的测试
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2019-12-27 实施：2019-12-30
T/IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
简介：随着SiC产业的发展，获得完美表面的SiC单晶抛光片已成为碳化硅材料应用的关键环节之一。为了制造高性能的SiC电力电子器件，要求晶片晶格完整，具有平整度极高的无损伤超平滑表面，且无晶向偏差。因为即使表面存在微小缺陷，都会破坏晶体材料的表面性能，甚至导致结晶构造的变化，影响器件的电学性能。现行的测试
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2019-12-27 实施：2019-12-30
T/IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
简介：随着SiC产业的发展，获得完美表面的SiC单晶抛光片已成为碳化硅材料应用的关键环节之一。为了制造高性能的SiC电力电子器件，要求晶片晶格完整，具有平整度极高的无损伤超平滑表面，且无晶向偏差。因为即使表面存在微小缺陷，都会破坏晶体材料的表面性能，甚至导致结晶构造的变化，影响器件的电学性能。现行的测试
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2019-12-27 实施：2019-12-30
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
简介：本标准规定了4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片的微管密度的无损检测方法。本标准适用于4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片经单面抛光或双面抛光后、微管的径向尺寸在一微米至几十微米范围内的微管密度的测量
信息：ICS：77.040.99 CCS：H26 发布：2014-12-31 实施：2015-09-01
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
简介：本标准规定了4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片的微管密度的无损检测方法。本标准适用于4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片经单面抛光或双面抛光后、微管的径向尺寸在一微米至几十微米范围内的微管密度的测量
信息：ICS：77.040.99 CCS：H26 发布：2014-12-31 实施：2015-09-01
GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
简介：本标准规定了4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片的微管密度的无损检测方法。本标准适用于4H晶型和6H晶型碳化硅单晶抛光片经单面抛光或双面抛光后、微管的径向尺寸在一微米至几十微米范围内的微管密度的测量
信息：ICS：77.040.99 CCS：H26 发布：2014-12-31 实施：2015-09-01
DB3301/T 0292-2019 重大活动病媒生物防制保障管理技术规范
简介：本标准规定了重大活动病媒生物防制保障工作的保障原则、保障区域、保障目标、组织管理、工作流程、防制策略、监测预警、应急保障、质量控制、保障措施等。 本标准适用于重大活动病媒生物防制保障，特定重大活动保障有特殊要求的，从其规定
信息：ICS：11.020 CCS：C05 发布：2019-09-20 实施：2019-10-20
DB3301/T 0292-2019 重大活动病媒生物防制保障管理技术规范
简介：本标准规定了重大活动病媒生物防制保障工作的保障原则、保障区域、保障目标、组织管理、工作流程、防制策略、监测预警、应急保障、质量控制、保障措施等。 本标准适用于重大活动病媒生物防制保障，特定重大活动保障有特殊要求的，从其规定
信息：ICS：11.020 CCS：C05 发布：2019-09-20 实施：2019-10-20
DB3301/T 0292-2019 重大活动病媒生物防制保障管理技术规范
简介：本标准规定了重大活动病媒生物防制保障工作的保障原则、保障区域、保障目标、组织管理、工作流程、防制策略、监测预警、应急保障、质量控制、保障措施等。 本标准适用于重大活动病媒生物防制保障，特定重大活动保障有特殊要求的，从其规定
信息：ICS：11.020 CCS：C05 发布：2019-09-20 实施：2019-10-20
T/CSTM 00249-2020 锂离子电池用微孔铝箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铝箔集流体（以下简称“微孔铝箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铝箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铝箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.10 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
T/CSTM 00249-2020 锂离子电池用微孔铝箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铝箔集流体（以下简称“微孔铝箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铝箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铝箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.10 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
T/CSTM 00249-2020 锂离子电池用微孔铝箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铝箔集流体（以下简称“微孔铝箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铝箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铝箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.10 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
JB/T 6569-1993 普通磨料包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS： CCS：J43 发布：1993-03-31 实施：1994-01-01
JB/T 6569-1993 普通磨料包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS： CCS：J43 发布：1993-03-31 实施：1994-01-01
JB/T 6569-1993 普通磨料包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS： CCS：J43 发布：1993-03-31 实施：1994-01-01
GB 5009.2-2016 食品安全国家标准 食品相对密度的测定
简介：
信息：ICS：67.050 CCS：X04 发布：2016-08-31 实施：2017-03-01
GB 5009.2-2016 食品安全国家标准 食品相对密度的测定
简介：
信息：ICS：67.050 CCS：X04 发布：2016-08-31 实施：2017-03-01
GB 5009.2-2016 食品安全国家标准 食品相对密度的测定
简介：
信息：ICS：67.050 CCS：X04 发布：2016-08-31 实施：2017-03-01
T/CSTM 00248-2020 锂离子电池用微孔铜箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铜箔集流体（以下简称“微孔铜箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铜箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铜箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.30 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
T/CSTM 00248-2020 锂离子电池用微孔铜箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铜箔集流体（以下简称“微孔铜箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铜箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铜箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.30 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
T/CSTM 00248-2020 锂离子电池用微孔铜箔集流体
简介：本标准规定了锂离子电池用微孔铜箔集流体（以下简称“微孔铜箔”）的术语和定义、技术要求、检测方法、检验规则、检测报告、标志、包装、运输、贮存、使用说明及注意事项等。本标准适用于锂离子电池用微孔铜箔集流体，其他如超级电容等储能领域用微孔铜箔集流体可参考本标准
信息：ICS：77.150.30 CCS：C325 发布：2020-07-06 实施：2020-07-07
DB44/T 1356-2014 填砂相对密度检测方法
简介：本标准规定了轻型动力触探检测填砂相对密度检测方法的定义和符号、要求、检测与评定方法。 本标准适用于公路与港口工程的中砂、粗砂(细度模数在2.3~3.7)相对密度的检测
信息：ICS：93.080.01 CCS：P51 发布：2014-04-18 实施：2014-07-18
DB44/T 1356-2014 填砂相对密度检测方法
简介：本标准规定了轻型动力触探检测填砂相对密度检测方法的定义和符号、要求、检测与评定方法。 本标准适用于公路与港口工程的中砂、粗砂(细度模数在2.3~3.7)相对密度的检测
信息：ICS：93.080.01 CCS：P51 发布：2014-04-18 实施：2014-07-18
DB44/T 1356-2014 填砂相对密度检测方法
简介：本标准规定了轻型动力触探检测填砂相对密度检测方法的定义和符号、要求、检测与评定方法。 本标准适用于公路与港口工程的中砂、粗砂(细度模数在2.3~3.7)相对密度的检测
信息：ICS：93.080.01 CCS：P51 发布：2014-04-18 实施：2014-07-18
CECS 194-2006 聚苯模板混凝土结构技术规程
简介：本规程主要适用于低层、多层、高层住宅和其他民用建筑中聚苯模板混凝土结构的设计、施工及验收。 聚苯模板混凝土结构工程的设计、施工及验收、除应符合本规程外，尚应符合国家现行有关标准的规定
信息：ICS：91.080.40 CCS：P25 发布：2006-01-15 实施：2006-04-01
CECS 194-2006 聚苯模板混凝土结构技术规程
简介：本规程主要适用于低层、多层、高层住宅和其他民用建筑中聚苯模板混凝土结构的设计、施工及验收。 聚苯模板混凝土结构工程的设计、施工及验收、除应符合本规程外，尚应符合国家现行有关标准的规定
信息：ICS：91.080.40 CCS：P25 发布：2006-01-15 实施：2006-04-01
CECS 194-2006 聚苯模板混凝土结构技术规程
简介：本规程主要适用于低层、多层、高层住宅和其他民用建筑中聚苯模板混凝土结构的设计、施工及验收。 聚苯模板混凝土结构工程的设计、施工及验收、除应符合本规程外，尚应符合国家现行有关标准的规定
信息：ICS：91.080.40 CCS：P25 发布：2006-01-15 实施：2006-04-01
T/GDFCA 031-2019 基于机器视觉技术的有害生物控制水平等级 鼠类
简介：本标准规定了基于机器视觉技术的有害生物识别的鼠类控制水平等级的内容，其中包括有害生物机器视觉识别系统组成、有害生物机器视觉密度统计方法、食品行业鼠类密度评分等级要求等内容
信息：ICS：67.040 CCS：I651 发布：2019-12-11 实施：2019-12-11
T/GDFCA 031-2019 基于机器视觉技术的有害生物控制水平等级 鼠类
简介：本标准规定了基于机器视觉技术的有害生物识别的鼠类控制水平等级的内容，其中包括有害生物机器视觉识别系统组成、有害生物机器视觉密度统计方法、食品行业鼠类密度评分等级要求等内容
信息：ICS：67.040 CCS：I651 发布：2019-12-11 实施：2019-12-11
T/GDFCA 031-2019 基于机器视觉技术的有害生物控制水平等级 鼠类
简介：本标准规定了基于机器视觉技术的有害生物识别的鼠类控制水平等级的内容，其中包括有害生物机器视觉识别系统组成、有害生物机器视觉密度统计方法、食品行业鼠类密度评分等级要求等内容
信息：ICS：67.040 CCS：I651 发布：2019-12-11 实施：2019-12-11
T/GDSHJXH 001-2020 黄金回收技术规程
简介：本文件规定了黄金回收场地与设备要求、黄金回收操作规范。本文件适用于黄金珠宝首饰行业从事黄金制品回收业务。本文件不适用于以旧换新业务
信息：ICS：77.120.01 CCS：C322 发布：2020-12-30 实施：2021-01-06
T/GDSHJXH 001-2020 黄金回收技术规程
简介：本文件规定了黄金回收场地与设备要求、黄金回收操作规范。本文件适用于黄金珠宝首饰行业从事黄金制品回收业务。本文件不适用于以旧换新业务
信息：ICS：77.120.01 CCS：C322 发布：2020-12-30 实施：2021-01-06
T/GDSHJXH 001-2020 黄金回收技术规程
简介：本文件规定了黄金回收场地与设备要求、黄金回收操作规范。本文件适用于黄金珠宝首饰行业从事黄金制品回收业务。本文件不适用于以旧换新业务
信息：ICS：77.120.01 CCS：C322 发布：2020-12-30 实施：2021-01-06
GB/T 14592-2014 钼圆片
简介：本标准规定了钼圆片产品的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同(或订货单)内容。本标准适用于功率半导体器件及电真空器件等用钼圆片
信息：ICS：77.150 CCS：H63 发布：2014-07-24 实施：2015-02-01
GB/T 14592-2014 钼圆片
简介：本标准规定了钼圆片产品的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同(或订货单)内容。本标准适用于功率半导体器件及电真空器件等用钼圆片
信息：ICS：77.150 CCS：H63 发布：2014-07-24 实施：2015-02-01
GB/T 14592-2014 钼圆片
简介：本标准规定了钼圆片产品的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和合同(或订货单)内容。本标准适用于功率半导体器件及电真空器件等用钼圆片
信息：ICS：77.150 CCS：H63 发布：2014-07-24 实施：2015-02-01
T/IAWBS 001-2021 碳化硅单晶
简介：碳化硅作为重要的宽禁带半导体材料，与硅和砷化镓等传统半导体相比，在热导率、击穿场强、饱和电子漂移速率、键合能和化学稳定性等方面具有明显的优势，是制作高温、高频、高压、高功率以及抗辐射器件的理想材料，在新一代移动通信、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域有广阔的应用前景
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-16 实施：2021-09-22
T/IAWBS 001-2021 碳化硅单晶
简介：碳化硅作为重要的宽禁带半导体材料，与硅和砷化镓等传统半导体相比，在热导率、击穿场强、饱和电子漂移速率、键合能和化学稳定性等方面具有明显的优势，是制作高温、高频、高压、高功率以及抗辐射器件的理想材料，在新一代移动通信、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域有广阔的应用前景
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-16 实施：2021-09-22
T/IAWBS 001-2021 碳化硅单晶
简介：碳化硅作为重要的宽禁带半导体材料，与硅和砷化镓等传统半导体相比，在热导率、击穿场强、饱和电子漂移速率、键合能和化学稳定性等方面具有明显的优势，是制作高温、高频、高压、高功率以及抗辐射器件的理想材料，在新一代移动通信、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域有广阔的应用前景
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-16 实施：2021-09-22
JB/T 6569-2006 普通磨料 包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输、贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS：25.100.70 CCS：J43 发布：2006-09-14 实施：2007-03-01
JB/T 6569-2006 普通磨料 包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输、贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS：25.100.70 CCS：J43 发布：2006-09-14 实施：2007-03-01
JB/T 6569-2006 普通磨料 包装
简介：本标准规定了普通磨料包装分级、技术要求、运输、贮存、试验方法及检验规则。 本标准适用于普通磨料，也适用于非磨削用途的刚玉和碳化硅
信息：ICS：25.100.70 CCS：J43 发布：2006-09-14 实施：2007-03-01
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
