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手持式x荧光光谱仪相关标准参考信息
T/CGWSTC 001-2022 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片
简介：本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告
信息：ICS：81.060.01 CCS：C411 发布：2022-05-10 实施：2022-06-13
T/CGWSTC 001-2022 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片
简介：本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告
信息：ICS：81.060.01 CCS：C411 发布：2022-05-10 实施：2022-06-13
T/CGWSTC 001-2022 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片
简介：本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法的原理、试剂和材料、仪器设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告
信息：ICS：81.060.01 CCS：C411 发布：2022-05-10 实施：2022-06-13
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