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x衍射仪相关标准参考信息
SN/T 3011.1-2020 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则
简介：
信息：ICS：77-010 CCS：H10 发布：2020-08-27 实施：2021-03-01
SN/T 3011.1-2020 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则
简介：
信息：ICS：77-010 CCS：H10 发布：2020-08-27 实施：2021-03-01
SN/T 3011.1-2020 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相 第1部分：通则
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HS/T 63-2019 《硅电钢平板轧材取向性的定性分析方法》
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G10/14 发布：2019-12-19 实施：2020-06-01
HS/T 63-2019 《硅电钢平板轧材取向性的定性分析方法》
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G10/14 发布：2019-12-19 实施：2020-06-01
HS/T 63-2019 《硅电钢平板轧材取向性的定性分析方法》
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G10/14 发布：2019-12-19 实施：2020-06-01
DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定（X 射线衍射法）
简介：本标准规定了用X 射线衍射法对聚丙烯（PP）管道产品中β晶相对含量测试分析的一般方法。 本标准适用于β晶型聚丙烯管材、管件，也适用于其它可得到平整测试平面的β晶型改性聚丙烯固体样品
信息：ICS：ICS 23.040.20 CCS：G 33 发布：2020-06-29 实施：2020-09-29
DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定（X 射线衍射法）
简介：本标准规定了用X 射线衍射法对聚丙烯（PP）管道产品中β晶相对含量测试分析的一般方法。 本标准适用于β晶型聚丙烯管材、管件，也适用于其它可得到平整测试平面的β晶型改性聚丙烯固体样品
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DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定（X 射线衍射法）
简介：本标准规定了用X 射线衍射法对聚丙烯（PP）管道产品中β晶相对含量测试分析的一般方法。 本标准适用于β晶型聚丙烯管材、管件，也适用于其它可得到平整测试平面的β晶型改性聚丙烯固体样品
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T/CSTM 00166.2-2020 石墨烯材料表征 第2部分 X射线衍射法
简介：本部分规定了X射线衍射法测试石墨烯粉体晶体结构的术语和定义、方法原理、仪器、实验环境条件、测试过程、数据处理和报告。本部分适用于石墨烯结构为基础的层数少于10层的石墨烯衍生物粉体
信息：ICS：59.100.20 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
T/CSTM 00166.2-2020 石墨烯材料表征 第2部分 X射线衍射法
简介：本部分规定了X射线衍射法测试石墨烯粉体晶体结构的术语和定义、方法原理、仪器、实验环境条件、测试过程、数据处理和报告。本部分适用于石墨烯结构为基础的层数少于10层的石墨烯衍生物粉体
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T/CSTM 00166.2-2020 石墨烯材料表征 第2部分 X射线衍射法
简介：本部分规定了X射线衍射法测试石墨烯粉体晶体结构的术语和定义、方法原理、仪器、实验环境条件、测试过程、数据处理和报告。本部分适用于石墨烯结构为基础的层数少于10层的石墨烯衍生物粉体
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JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
简介：本规程适用于多晶X射线衍射仪(以下简称仪器)的首次检定、后续检定和使用中检查
信息：ICS： CCS：N54 发布：2014-06-15 实施：2014-12-15
JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
简介：本规程适用于多晶X射线衍射仪(以下简称仪器)的首次检定、后续检定和使用中检查
信息：ICS： CCS：N54 发布：2014-06-15 实施：2014-12-15
JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
简介：本规程适用于多晶X射线衍射仪(以下简称仪器)的首次检定、后续检定和使用中检查
信息：ICS： CCS：N54 发布：2014-06-15 实施：2014-12-15
SH/T 1827-2019 塑料 结晶度的测定 X射线衍射法
简介：
信息：ICS：83.080.01 CCS：G31 发布：2019-12-24 实施：2020-07-01
SH/T 1827-2019 塑料 结晶度的测定 X射线衍射法
简介：
信息：ICS：83.080.01 CCS：G31 发布：2019-12-24 实施：2020-07-01
SH/T 1827-2019 塑料 结晶度的测定 X射线衍射法
简介：
信息：ICS：83.080.01 CCS：G31 发布：2019-12-24 实施：2020-07-01
T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
简介：氧化镓（Ga2O3）因其具有4.9eV超宽带隙，且具有天然的日盲紫外特性以及极高的击穿场强获得了广泛关注。氧化镓拥有日盲、耐高压高温、低损耗高功率等特点，在半导体功率器件及电力电子器件市场前景广泛。氧化镓单晶材料是氧化镓生长最理想的衬底，对提高外延薄膜的质量，降低位错密度，提高器件效率
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-15 实施：2021-09-15
T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
简介：氧化镓（Ga2O3）因其具有4.9eV超宽带隙，且具有天然的日盲紫外特性以及极高的击穿场强获得了广泛关注。氧化镓拥有日盲、耐高压高温、低损耗高功率等特点，在半导体功率器件及电力电子器件市场前景广泛。氧化镓单晶材料是氧化镓生长最理想的衬底，对提高外延薄膜的质量，降低位错密度，提高器件效率
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-15 实施：2021-09-15
T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
简介：氧化镓（Ga2O3）因其具有4.9eV超宽带隙，且具有天然的日盲紫外特性以及极高的击穿场强获得了广泛关注。氧化镓拥有日盲、耐高压高温、低损耗高功率等特点，在半导体功率器件及电力电子器件市场前景广泛。氧化镓单晶材料是氧化镓生长最理想的衬底，对提高外延薄膜的质量，降低位错密度，提高器件效率
信息：ICS：29.045 CCS：C398 发布：2021-09-15 实施：2021-09-15
SN/T 3011.1-2011 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相.第1部分：通则
简介：警告：使用本标准的人员应具有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者应随时关好X射线衍射仪的防护罩（或门），防止X射线散射。本部分规定了采用X射线衍射法鉴定金属矿产类进口固体废物物相的通则。 本部分适用于采用X射线衍射法对金属矿产类进口固体废物进行的物相鉴定
信息：ICS： CCS：H26 发布：2011-09-09 实施：2012-04-01
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
简介：本标准规定了X射线衍射法进行无机化工产品晶型结构分析的术语和定义、方法原理、试剂和材料、仪器、样品制备、测定、仪器实验室条件和安全。本标准适用于采用衍射仪法对各种无机化工产品的晶型结构进行分析
信息：ICS：71.060.01 CCS：G10 发布：2014-07-08 实施：2014-12-01
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
简介：本标准规定了X射线衍射法进行无机化工产品晶型结构分析的术语和定义、方法原理、试剂和材料、仪器、样品制备、测定、仪器实验室条件和安全。本标准适用于采用衍射仪法对各种无机化工产品的晶型结构进行分析
信息：ICS：71.060.01 CCS：G10 发布：2014-07-08 实施：2014-12-01
GB/T 30904-2014 无机化工产品 晶型结构分析 X射线衍射法
简介：本标准规定了X射线衍射法进行无机化工产品晶型结构分析的术语和定义、方法原理、试剂和材料、仪器、样品制备、测定、仪器实验室条件和安全。本标准适用于采用衍射仪法对各种无机化工产品的晶型结构进行分析
信息：ICS：71.060.01 CCS：G10 发布：2014-07-08 实施：2014-12-01
SN/T 3011.1-2011 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相.第1部分：通则
简介：警告：使用本标准的人员应具有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者应随时关好X射线衍射仪的防护罩（或门），防止X射线散射。本部分规定了采用X射线衍射法鉴定金属矿产类进口固体废物物相的通则。 本部分适用于采用X射线衍射法对金属矿产类进口固体废物进行的物相鉴定
信息：ICS： CCS：H26 发布：2011-09-09 实施：2012-04-01
SN/T 3011.1-2011 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相.第1部分：通则
简介：警告：使用本标准的人员应具有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者应随时关好X射线衍射仪的防护罩（或门），防止X射线散射。本部分规定了采用X射线衍射法鉴定金属矿产类进口固体废物物相的通则。 本部分适用于采用X射线衍射法对金属矿产类进口固体废物进行的物相鉴定
信息：ICS： CCS：H26 发布：2011-09-09 实施：2012-04-01
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。本标准适用于多晶X射线衍射仪
信息：ICS：17.180.99;17.180.30 CCS：N33 发布：2010-02-11 实施：2010-07-01
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。本标准适用于多晶X射线衍射仪
信息：ICS：17.180.99;17.180.30 CCS：N33 发布：2010-02-11 实施：2010-07-01
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。本标准适用于多晶X射线衍射仪
信息：ICS：17.180.99;17.180.30 CCS：N33 发布：2010-02-11 实施：2010-07-01
JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
简介：本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪（以下简称衍射仪
信息：ICS：17.180.99 CCS：N33 发布：2011-12-20 实施：2012-04-01
JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
简介：本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪（以下简称衍射仪
信息：ICS：17.180.99 CCS：N33 发布：2011-12-20 实施：2012-04-01
JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
简介：本标准规定了X射线衍射仪的术语和定义、产品分类、技术要求、检验规则、测试方法、标志、包装运输、贮存等。本标准适用于θ-θ、θ-2θ结构测角仪的多晶X射线衍射仪（以下简称衍射仪
信息：ICS：17.180.99 CCS：N33 发布：2011-12-20 实施：2012-04-01
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
简介：GB/T 19421的本部分规定了层状结晶二硅酸钠中X射线衍射仪法定性分析δ相层状结晶二硅酸钠的方法。 本部分适用于层状结晶二硅酸钠中δ相层状结晶二硅酸钠的定性分析
信息：ICS：71.060.50 CCS：G12 发布：2003-12-11 实施：2004-06-01
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
简介：GB/T 19421的本部分规定了层状结晶二硅酸钠中X射线衍射仪法定性分析δ相层状结晶二硅酸钠的方法。 本部分适用于层状结晶二硅酸钠中δ相层状结晶二硅酸钠的定性分析
信息：ICS：71.060.50 CCS：G12 发布：2003-12-11 实施：2004-06-01
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
简介：GB/T 19421的本部分规定了层状结晶二硅酸钠中X射线衍射仪法定性分析δ相层状结晶二硅酸钠的方法。 本部分适用于层状结晶二硅酸钠中δ相层状结晶二硅酸钠的定性分析
信息：ICS：71.060.50 CCS：G12 发布：2003-12-11 实施：2004-06-01
GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
简介：
信息：ICS：91.100.10 CCS：Q11 发布：2021-08-20 实施：2022-03-01 00:00:00.0
GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
简介：
信息：ICS：91.100.10 CCS：Q11 发布：2021-08-20 实施：2022-03-01 00:00:00.0
GB/T 40407-2021 硅酸盐水泥熟料矿相X射线衍射分析方法
简介：
信息：ICS：91.100.10 CCS：Q11 发布：2021-08-20 实施：2022-03-01 00:00:00.0
T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法
简介：碳化硅（SiC）具有高临界击穿场强、高的热导率、高电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。使用碳化硅作为衬底生长器件结构时，衬底质量对外延层的质量起决定性作用。大尺寸碳化硅单晶常常呈现基平面的摇摆曲线衍射峰位随着单晶直径衍射位置的改变而变化的现象，这种衍射
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法
简介：碳化硅（SiC）具有高临界击穿场强、高的热导率、高电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。使用碳化硅作为衬底生长器件结构时，衬底质量对外延层的质量起决定性作用。大尺寸碳化硅单晶常常呈现基平面的摇摆曲线衍射峰位随着单晶直径衍射位置的改变而变化的现象，这种衍射
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
T/CASAS 014-2021 碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法
简介：碳化硅（SiC）具有高临界击穿场强、高的热导率、高电子饱和漂移速率、优越的机械特性和物理、化学稳定性等特点，可用于制作高温大功率器件。使用碳化硅作为衬底生长器件结构时，衬底质量对外延层的质量起决定性作用。大尺寸碳化硅单晶常常呈现基平面的摇摆曲线衍射峰位随着单晶直径衍射位置的改变而变化的现象，这种衍射
信息：ICS：31-030 CCS：C398 发布：2021-11-01 实施：2021-11-04
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。 本标准适用于多晶X射线射衍射仪
信息：ICS： CCS：N33 发布：1999-08-06 实施：2000-01-01
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。 本标准适用于多晶X射线射衍射仪
信息：ICS： CCS：N33 发布：1999-08-06 实施：2000-01-01
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
简介：本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。 本标准适用于多晶X射线射衍射仪
信息：ICS： CCS：N33 发布：1999-08-06 实施：2000-01-01
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