(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
电子显微镜相关标准参考信息
GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
简介：本标准规定了法庭科学领域扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装及要求。本标准适用于法庭科学领域中扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装，其他领域亦可参照使用
信息：ICS：13.310 CCS：A92 发布：2010-12-08 实施：2010-12-08
GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
简介：本标准规定了法庭科学领域扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装及要求。本标准适用于法庭科学领域中扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装，其他领域亦可参照使用
信息：ICS：13.310 CCS：A92 发布：2010-12-08 实施：2010-12-08
GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
简介：本标准规定了法庭科学领域扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装及要求。本标准适用于法庭科学领域中扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物的提取、包装，其他领域亦可参照使用
信息：ICS：13.310 CCS：A92 发布：2010-12-08 实施：2010-12-08
SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法
简介：SN/T 2649的本部分规定了化妆品中石棉含量测定的X-射线衍射及扫描电子显微镜法。本部分适用于以滑石粉为原料的粉质类化妆品中石棉含量的测定
信息：ICS： CCS：Y42 发布：2010-11-01 实施：2011-05-01
SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法
简介：SN/T 2649的本部分规定了化妆品中石棉含量测定的X-射线衍射及扫描电子显微镜法。本部分适用于以滑石粉为原料的粉质类化妆品中石棉含量的测定
信息：ICS： CCS：Y42 发布：2010-11-01 实施：2011-05-01
SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法
简介：SN/T 2649的本部分规定了化妆品中石棉含量测定的X-射线衍射及扫描电子显微镜法。本部分适用于以滑石粉为原料的粉质类化妆品中石棉含量的测定
信息：ICS： CCS：Y42 发布：2010-11-01 实施：2011-05-01
NF T16-404-2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2020-11-07 实施：2020-11-07
NF T16-404-2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2020-11-07 实施：2020-11-07
NF T16-404-2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2020-11-07 实施：2020-11-07
KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2009-12-30 实施：
KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2009-12-30 实施：
KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2009-12-30 实施：
ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
简介：
信息：ICS：31.120 CCS： 发布：2017-06-01 实施：
ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
简介：
信息：ICS：31.120 CCS： 发布：2017-06-01 实施：
ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
简介：
信息：ICS：31.120 CCS： 发布：2017-06-01 实施：
ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2020-04-15 实施：
ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2020-04-15 实施：
ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2020-04-15 实施：
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2012-12-07 实施：
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2012-12-07 实施：
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2012-12-07 实施：
T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
简介：本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准
信息：ICS：17.020 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
简介：本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准
信息：ICS：17.020 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
T/CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法
简介：本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准
信息：ICS：17.020 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
KS I ISO 13794-2008(2018) 环境空气中石棉纤维含量的测定间接透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：13.040.20 CCS： 发布：2008-12-02 实施：
KS I ISO 13794-2008(2018) 环境空气中石棉纤维含量的测定间接透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：13.040.20 CCS： 发布：2008-12-02 实施：
KS I ISO 13794-2008(2018) 环境空气中石棉纤维含量的测定间接透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：13.040.20 CCS： 发布：2008-12-02 实施：
T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法
简介：本部分规定了透射电子显微镜法表征石墨烯材料的术语和定义、原理、仪器设备、测试样品制备、测试及计算过程、不确定度评定及测试报告。本部分适用于石墨烯材料微观形貌、层数和层间距测量
信息：ICS：59.100.20 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法
简介：本部分规定了透射电子显微镜法表征石墨烯材料的术语和定义、原理、仪器设备、测试样品制备、测试及计算过程、不确定度评定及测试报告。本部分适用于石墨烯材料微观形貌、层数和层间距测量
信息：ICS：59.100.20 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法
简介：本部分规定了透射电子显微镜法表征石墨烯材料的术语和定义、原理、仪器设备、测试样品制备、测试及计算过程、不确定度评定及测试报告。本部分适用于石墨烯材料微观形貌、层数和层间距测量
信息：ICS：59.100.20 CCS：M745 发布：2020-03-23 实施：2020-03-23
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2021-07-28 实施：2022-01-28
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2021-07-28 实施：2022-01-28
JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2021-07-28 实施：2022-01-28
JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
简介：
信息：ICS：03.180 CCS：Y51 发布：2020-09-29 实施：2020-12-01
JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
简介：
信息：ICS：03.180 CCS：Y51 发布：2020-09-29 实施：2020-12-01
JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
简介：
信息：ICS：03.180 CCS：Y51 发布：2020-09-29 实施：2020-12-01
ASTM E3143-18 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
简介：
信息：ICS：17.180.30 CCS： 发布：2018-02-01 实施：
ASTM E3143-18 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
简介：
信息：ICS：17.180.30 CCS： 发布：2018-02-01 实施：
ASTM E3143-18 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
简介：
信息：ICS：17.180.30 CCS： 发布：2018-02-01 实施：
ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：1999-06-10 实施：
ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：1999-06-10 实施：
ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：1999-06-10 实施：
KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2016-12-19 实施：
KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2016-12-19 实施：
KS D 8544-2016(2021) 金属涂层——涂层厚度测量——透射电子显微镜法
简介：
信息：ICS：25.220.40 CCS： 发布：2016-12-19 实施：
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
