质谱检测检测标准质谱检测-中析研究所检测

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质谱检测相关标准参考信息

DIN EN 17411-2021 肥料. 采用液相色谱法和串联质谱检测法(LC-MS/MS)测定矿物肥料中的高氯酸盐
简介：This document specifies a method for the determination of traces of perchlorate by liquid chromatography and tandem mass spectrometry detection (LC-MS
信息：ICS： CCS：发布：2021-01-00 实施：

DIN EN 15308-2016 废弃物的特性.用带电子俘获或质谱检测的气相色谱法测定固体废弃物中选择的多氯化联二苯(PCB).德文版本EN 15308-2016
简介：
信息：ICS：13.030.10;13.030.20;13.080.10 CCS：Z04 发布：2016-12 实施：

T/CASAS 010-2019 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
简介：半导体材料中的痕量杂质元素浓度及其分布高精度表征是影响产业链不同阶段产品（如衬底、外延、芯片、器件）性能的重要参数。二次离子质谱仪是检测材料痕量杂质元素浓度及分布的最常用且最精准的设备。目前我国以二次离子质谱方法高精度检测第三代半导体材料中的痕量杂质浓度及分布的标准属于空白领域，因此该标准的制定对
信息：ICS：31.080.01 CCS：C398 发布：2019-11-25 实施：2019-12-02

KS I ISO 17495-2007(2017) 水质选定硝基酚的测定固相萃取气相色谱质谱检测法
简介：
信息：ICS：13.060.50 CCS：发布：2007-06-27 实施：

ONORM M 6623-1994 水质分析．固液萃取和衍生化后由气相色谱和质谱检测法测定苯氧基碳酸
简介：Diese ?NORM beschreibt ein Verfahren zur Bestimmung von Phenoxyalkancarbons?uren mittels Gaschromatographie und massenspektrometrischer Detektion nach
信息：ICS： CCS：发布：1994-1-1 实施：

DIN EN 15308-2008 废弃物的特性.用带电子俘获或质谱检测的毛细管气相色谱法测定固体废弃物中选择的多氯化联二苯(PCB)
简介：This document specifies a method for quantitative determination of seven polychlorinated biphenyl congeners(PCB-28, PCB-52, PCB-101, PCB-118
信息：ICS：13.030.10;13.030.20;13.080.10 CCS：Z13 发布：2008-05 实施：

NF X30-453-2008 废弃物的特性.用带电子俘获或质谱检测的毛细管气相色谱法测定固体废弃物中选择的多氯化联二苯(PCB).
简介：
信息：ICS：13.030.10;13.030.20;13.080.10 CCS：Z27 发布：2008-05-01 实施：2008-05-23

BS EN 15308-2008 废弃物的特性.用带电子俘获或质谱检测的毛细管气相色谱法测定固体废弃物中选择的多氯化联二苯(PCB)
简介：This document specifies a method for quantitative determination of seven polychlorinated biphenyl congeners(PCB-28, PCB-52, PCB-101, PCB-118
信息：ICS：13.030.10;13.030.20;13.080.10 CCS：Z04 发布：2008-05-30 实施：2008-05-30

BS EN 15308-2016 废弃物的特性.用带电子俘获或质谱检测的气相色谱法测定固体废弃物中选择的多氯化联二苯(PCB)
简介：
信息：ICS：13.030.10;13.030.20;13.080.10 CCS：Z04 发布：2016-10-31 实施：2016-10-31

NF T90-091-2011 水质.水中16种多环芳烃的测定.采用气象色谱结合质谱检测(GC-MS)的方法
简介：
信息：ICS：13.060.50 CCS：Z16 发布：2011-12-01 实施：2011-12-30

NF X31-170-2006 土壤质量.多环芳香茎(PAH)的测定.有质谱检测的气相色谱法(GC-MS)
简介：
信息：ICS：13.080.10 CCS：B11 发布：2006-08-01 实施：2006-08-05

NF T90-181-2003 水质.选择的硝基苯酚的测定.固相萃取法和带有质谱检测的气相色谱法
简介：
信息：ICS：13.060.50 CCS：Z16 发布：2003-10-01 实施：2003-10-05

DB15/T 2149-2021 革兰氏阴性菌群体感应信号分子的气相色谱-质谱检测方法
简介：
信息：ICS：65.020.30 CCS：B 40 发布：2021-04-15 实施：2021-05-15

GB/T 19427-2003 蜂胶中芦丁、杨梅酮、槲皮素、莰菲醇、芹菜素、松属素、苛因、高良姜素含量的测定方法液相色谱-串联质谱检测法和液相色谱-紫外检测法已作废
简介：本标准规定了蜂胶中芦丁、杨梅酮、槲皮素、莰菲醇、芹菜素、松属素、苛因、高良姜素含量的液相色谱-串联质谱和液相色谱测定方法。本标准适用于蜂胶中芦丁、杨梅酮、槲皮素、莰菲醇、芹菜素、松属素、苛因、高良姜素含量的测定。本标准液相色谱-串联质谱法的检出限：芦丁为0.15g
信息：ICS：67.180.10 CCS：X31 发布：2003-12-26 实施：2004-06-01

DB15/T 2149-2021 革兰氏阴性菌群体感应信号分子的气相色谱-质谱检测方法
简介：
信息：ICS：65.020.30 CCS：B 40 发布：2021-04-15 实施：2021-05-15

T/CASAS 009-2019 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
简介：半导体材料中的痕量杂质元素浓度及其分布高精度表征是影响产业链不同阶段产品（如衬底、外延、芯片、器件）性能的重要参数。二次离子质谱仪是检测材料痕量杂质元素浓度及分布的最常用且最精准的设备。目前我国以二次离子质谱方法高精度检测第三代半导体材料中的痕量杂质浓度及分布的标准属于空白领域，因此该标准的制定对
信息：ICS：31.080.01 CCS：C398 发布：2019-11-25 实施：2019-12-02

GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法
简介：1.1本标准规定了硅和外延片表面Na，Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法。本标准适用于用二次离子质谱法(SIMS)检测镜面抛光单晶硅片和外延片表面的Na，Al、K和Fe每种金属总量。本标准测试的是每种金属的总量，因此该方法与各金属的化学和电学特性无关。1.2本标准适用于所有掺杂种类和掺杂浓度的
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01

DB15/T 2149-2021 革兰氏阴性菌群体感应信号分子的气相色谱-质谱检测方法
简介：
信息：ICS：65.020.30 CCS：B 40 发布：2021-04-15 实施：2021-05-15

GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
简介：1.1本标准规定了重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱测试方法。本标准适用于二次离子质谱法(SIMS)对重掺n型硅衬底单晶体材料中痕量硼沾污(总量)的测试。1.2本标准适用于对锑、砷、磷的掺杂浓度<0.2%(l×10 atoms/cm的硅材料中硼浓度的检测。特别适用于硼
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01