晶粒尺寸检测标准
晶粒尺寸相关标准参考信息
NF B41-204-1-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第1部分:晶粒尺寸和粒度分布的测定
简介：
信息：ICS：81.060.30 CCS：Q32 发布：2016-06-18 实施：2016-06-18
NF B41-204-1-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第1部分:晶粒尺寸和粒度分布的测定
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NF B41-204-1-2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第1部分:晶粒尺寸和粒度分布的测定
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KS D 0205-2002(2017) 铁素体或奥氏体晶粒尺寸的钢缩微照相测定
简介：
信息：ICS：77.040.30 CCS： 发布：2002-05-29 实施：
KS D 0205-2002(2017) 铁素体或奥氏体晶粒尺寸的钢缩微照相测定
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信息：ICS：77.040.30 CCS： 发布：2002-05-29 实施：
KS D 0205-2002(2017) 铁素体或奥氏体晶粒尺寸的钢缩微照相测定
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KS D 0209-1982(1997) 河铁素体晶粒尺寸的测试方法
简介：
信息：ICS：77.040.30 CCS： 发布：1982-12-14 实施：
KS D 0209-1982(1997) 河铁素体晶粒尺寸的测试方法
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信息：ICS：77.040.30 CCS： 发布：1982-12-14 实施：
KS D 0209-1982(1997) 河铁素体晶粒尺寸的测试方法
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信息：ICS：77.040.30 CCS： 发布：1982-12-14 实施：
ASTM E2627-13(2019) 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS： 发布：2019-11-01 实施：
ASTM E2627-13(2019) 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
简介：
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ASTM E2627-13(2019) 用电子背散射衍射（EBSD）测定完全再结晶多晶材料中平均晶粒尺寸的标准实施规程
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CSN 42 0464-1962 有色金属的平均晶粒尺寸的估算方法
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1962-5-19 实施：
CSN 42 0464-1962 有色金属的平均晶粒尺寸的估算方法
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1962-5-19 实施：
CSN 42 0464-1962 有色金属的平均晶粒尺寸的估算方法
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信息：ICS： CCS： 发布：1962-5-19 实施：
MSZ 6499-1970 定义的晶粒尺寸铜和铜合金镜检查
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1970-01-01 实施：
MSZ 6499-1970 定义的晶粒尺寸铜和铜合金镜检查
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1970-01-01 实施：
MSZ 6499-1970 定义的晶粒尺寸铜和铜合金镜检查
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信息：ICS： CCS： 发布：1970-01-01 实施：
STAS 9162-1973 不含金属的矿产品．含碳酸盐成分．晶粒尺寸的测定
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1973-01-04 实施：
STAS 9162-1973 不含金属的矿产品．含碳酸盐成分．晶粒尺寸的测定
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1973-01-04 实施：
STAS 9162-1973 不含金属的矿产品．含碳酸盐成分．晶粒尺寸的测定
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信息：ICS： CCS： 发布：1973-01-04 实施：
GB/T 31568-2015 热喷涂热障ZrO2涂层晶粒尺寸的测定 谢乐公式法
简介：本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO2涂层试样中立方、四方、单斜三种相ZrO2晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等。本标准适用于晶粒尺寸在2 nm～100 nm范围、内部无不均匀应变的试样
信息：ICS：25.220.20 CCS：A29 发布：2015-05-15 实施：2016-01-01
GB/T 31568-2015 热喷涂热障ZrO2涂层晶粒尺寸的测定 谢乐公式法
简介：本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO2涂层试样中立方、四方、单斜三种相ZrO2晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等。本标准适用于晶粒尺寸在2 nm～100 nm范围、内部无不均匀应变的试样
信息：ICS：25.220.20 CCS：A29 发布：2015-05-15 实施：2016-01-01
GB/T 31568-2015 热喷涂热障ZrO2涂层晶粒尺寸的测定 谢乐公式法
简介：本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO2涂层试样中立方、四方、单斜三种相ZrO2晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等。本标准适用于晶粒尺寸在2 nm～100 nm范围、内部无不均匀应变的试样
信息：ICS：25.220.20 CCS：A29 发布：2015-05-15 实施：2016-01-01
DIN EN 16090-2012 铜和铜合金.通过超声波估计平均晶粒尺寸:德文版本EN 16090-2011
简介：
信息：ICS：77.120.30 CCS：H13 发布：2012-02 实施：
DIN EN 16090-2012 铜和铜合金.通过超声波估计平均晶粒尺寸:德文版本EN 16090-2011
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DIN EN 16090-2012 铜和铜合金.通过超声波估计平均晶粒尺寸:德文版本EN 16090-2011
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BS EN 16090-2011 铜和铜合金.用超声波对平均晶粒尺寸的估算
简介：
信息：ICS：77.120.30 CCS：H13 发布：2011-12-31 实施：2011-12-31
BS EN 16090-2011 铜和铜合金.用超声波对平均晶粒尺寸的估算
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BS EN 16090-2011 铜和铜合金.用超声波对平均晶粒尺寸的估算
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GM GM9613P-1994 使用Faxfilm复制对磷酸锌晶粒尺寸的测定
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：1994 实施：
GM GM9613P-1994 使用Faxfilm复制对磷酸锌晶粒尺寸的测定
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GM GM9613P-1994 使用Faxfilm复制对磷酸锌晶粒尺寸的测定
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ASTM B390-92(2000) 评定硬质合金表观晶粒尺寸和分布的标准实施规程
简介：
信息：ICS：77.160 CCS： 发布：2000-01-01 实施：
ASTM B390-92(2000) 评定硬质合金表观晶粒尺寸和分布的标准实施规程
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KS D ISO 2624-2002(2022) 铜和铜合金－平均晶粒尺寸的估算
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2002-12-18 实施：
KS D ISO 2624-2002(2022) 铜和铜合金－平均晶粒尺寸的估算
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信息：ICS： CCS： 发布：2002-12-18 实施：
ASTM E1181-87(1998)e1 表征双相晶粒尺寸的标准测试方法
简介：
信息：ICS：19.120 CCS： 发布：1998-04-10 实施：
ASTM E1181-87(1998)e1 表征双相晶粒尺寸的标准测试方法
简介：
信息：ICS：19.120 CCS： 发布：1998-04-10 实施：
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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
简介：本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料
信息：ICS：19.100 CCS：N78 发布：2009-04-01 实施：2009-12-01
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
简介：本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料
信息：ICS：19.100 CCS：N78 发布：2009-04-01 实施：2009-12-01
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
简介：本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0. 1%的纳米材料
信息：ICS：19.100 CCS：N78 发布：2009-04-01 实施：2009-12-01
